SMART Modular Technologies presenta unidades de memoria flash con mitigación SEU

SMART Modular Technologies, Inc. («SMART»), una división de SGH y líder mundial en soluciones de memoria, unidades de estado sólido y memoria avanzada, anuncia una tecnología patentada para mitigar el impacto adverso de las perturbaciones de evento único (SEU) en sistemas basados en memoria flash de alta fiabilidad. Los productos SSD MP3000 NVMe de SMART Modular con mitigación de SEU reducen las tasas anuales de fallos de hasta 17,5k/Mu (millones de unidades) a menos de 10/Mu y pueden ahorrar cientos de miles de dólares en costes potenciales de servicio al ayudar a garantizar cientos de horas de tiempo de actividad ininterrumpida, especialmente importante para despliegues remotos difíciles de reparar.

«Nuestras unidades de arranque SATA y PCIe NVMe estándar del sector pueden reducir drásticamente las tasas de fallos anuales hasta en un 99,7% al recuperarse de errores blandos debidos a perturbaciones de un solo evento», afirma Satya Iyer, vicepresidente de memorias especiales de SMART. «En aplicaciones de redes y telecomunicaciones en ubicaciones remotas y de difícil servicio, la mitigación de SEU y la capacidad de recuperación de errores blandos pueden marcar la diferencia para sistemas que requieren un tiempo de actividad 24/7».

Las SEU son un cambio involuntario en el «estado de los bits» que se produce en los sistemas digitales cuando neutrones de alta energía, o partículas alfa, impactan aleatoriamente y provocan que los bits de la memoria -componentes lógicos- cambien literalmente de estado. Estas partículas de alta energía pueden proceder de fuentes terrestres o extraterrestres, como los rayos cósmicos. Los SEU pueden provocar un funcionamiento anómalo de los sistemas digitales o su fallo total. La eliminación de estos errores o fallos en la unidad SSD permite la recuperación sin necesidad de reiniciar todo el sistema, lo que es fundamental para mantener la fiabilidad de las operaciones y los tiempos de ejecución ininterrumpidos.

La tecnología de mitigación SEU es superior a otras soluciones que se basan simplemente en ECC para la SRAM interna. Al tener la capacidad de reiniciarse a sí misma sin necesidad de reiniciar el sistema, la unidad SSD también gestiona posibles bits alterados en otros componentes de la unidad SSD, lo que podría suponer un 10% adicional de fallos. Diseñadas para aplicaciones que requieren el máximo tiempo de actividad, estas unidades de arranque con mitigación SEU vienen en rangos de capacidad de almacenamiento de 60 GB a 1,92 TB, y están disponibles en grados de temperatura comercial e industrial.

Las unidades ME2 SATA M.2 y mSATA con mitigación SEU proporcionan de 60 GB a 1,92 TB de almacenamiento y están disponibles en grados comerciales (temperatura de funcionamiento: de 0 a 70 °C) e industriales (temperatura de funcionamiento: de -40 a 85 °C). La M.2 2280 también es compatible con la protección de datos SafeDATA contra pérdida de alimentación.

Las unidades MP3000 NVMe PCIe con mitigación SEU proporcionan de 80 GB a 1,92 TB de almacenamiento en factores de forma M.2 2280, M.2 22110 y E1.S y están disponibles en grados de temperatura comercial (temperatura de funcionamiento: de 0 a 70 °C) y temperatura industrial (temperatura de funcionamiento: de -40 a 85 °C). También son compatibles con la protección de datos SafeDATA contra la pérdida de alimentación.

Fuente: SMART Modular Technologies